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Registros recuperados : 222 | |
4. | | BERNARDES FILHO, R.; SCHIEL, D. Caos no trilho de ar: uma proposta. In: REUNIÃO ANUAL DA SBPC, 40., jul. 1988, São Paulo, SP. Ciência e Cultura, São Paulo, v.40, n.7, p.396, jul. 1988. Suplemento. Resumos. ref.12-D.1.9. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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11. | | GOY, R. C.; BERNARDES FILHO, R. Estudos de inibição do crescimento bacteriano pela ação de filmes de quitosana e própolis. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 7.; ESCOLA DE NANOTECNOLOGIA, 3., 2013, São Carlos, SP. Anais... São Carlos, SP: Embrapa Instrumentação, 2013. p. 109-111 Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. CD-ROM. Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 222 | |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
14/03/2005 |
Data da última atualização: |
28/03/2007 |
Autoria: |
BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
Estudo de polímeros por microscopia de força atômica. |
Ano de publicação: |
2003 |
Fonte/Imprenta: |
São Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2003. 4 p. |
Série: |
(Embrapa Instrumentação Agropecuária. Comunicado Técnico, 53). |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
A microscopia de varredura de força (MVF SFM "scanning force microscopy") também conhecida como microscopia de força atômica (MFA AFM "atomic force microscopy") tem sido utilizada largamente no estudo de polímeros (Jandt (1998), Schneider & Herrmann (2001) e Hodges (2002)), devido a sua capacidade de fornecer informações que não eram passíveis de se obter com o uso da microscopia eletrônica de varredura. Por conseguir obter imagens de superfície de materiais sob as mais variadas condições (ar, vácuo e em meio líquido) se tornou um dos equipamentos mais completos para estudo de materiais em micro e nano escalas. Apresenta várias vantagens em relação às microscopias eletrônica (ME) de varredura e eletrônica de transmissão, para estudo de polímeros, entre elas: dispensar o uso de vácuo ou de recobrimento da amostra, a possibilidade de se realizar medidas diretas de altura e rugosidade, além de, para estruturas ordenadas, poder obter imagens com resolução atômica. As imagens obtidas com os diferentes tipos de AFM são relacionadas com a natureza das forças envolvidas: repulsão coulômbica (AFM -modo contato), força de van der Waals (AFM modo não contato e contato intermitente) (Meyer, 1992), força magnética (MFM), força elétrica (MFE), força de atrito entre outras (Jandt, 1998). |
Palavras-Chave: |
AFM; Imagens; Microscopia de Força Atômica; nível microscópico e atômico. |
Thesagro: |
Análise. |
Categoria do assunto: |
-- |
URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/CNPDIA/8722/1/CT53_2003.pdf
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Marc: |
LEADER 01947nam a2200193 a 4500 001 1028614 005 2007-03-28 008 2003 bl uuuu u0uu1 u #d 100 1 $aBERNARDES FILHO, R. 245 $aEstudo de polímeros por microscopia de força atômica. 260 $aSão Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2003. 4 p.$c2003 490 $a(Embrapa Instrumentação Agropecuária. Comunicado Técnico, 53). 520 $aA microscopia de varredura de força (MVF SFM "scanning force microscopy") também conhecida como microscopia de força atômica (MFA AFM "atomic force microscopy") tem sido utilizada largamente no estudo de polímeros (Jandt (1998), Schneider & Herrmann (2001) e Hodges (2002)), devido a sua capacidade de fornecer informações que não eram passíveis de se obter com o uso da microscopia eletrônica de varredura. Por conseguir obter imagens de superfície de materiais sob as mais variadas condições (ar, vácuo e em meio líquido) se tornou um dos equipamentos mais completos para estudo de materiais em micro e nano escalas. Apresenta várias vantagens em relação às microscopias eletrônica (ME) de varredura e eletrônica de transmissão, para estudo de polímeros, entre elas: dispensar o uso de vácuo ou de recobrimento da amostra, a possibilidade de se realizar medidas diretas de altura e rugosidade, além de, para estruturas ordenadas, poder obter imagens com resolução atômica. As imagens obtidas com os diferentes tipos de AFM são relacionadas com a natureza das forças envolvidas: repulsão coulômbica (AFM -modo contato), força de van der Waals (AFM modo não contato e contato intermitente) (Meyer, 1992), força magnética (MFM), força elétrica (MFE), força de atrito entre outras (Jandt, 1998). 650 $aAnálise 653 $aAFM 653 $aImagens 653 $aMicroscopia de Força Atômica 653 $anível microscópico e atômico 700 1 $aMATTOSO, L. H. C.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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